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较早产品

LANGER EMV-Technik SX近场探头组

LANGER EMV-Technik SX近场探头组专门为近场测试设计的探头,电磁兼容工程师必备的最基本工具,用于在产品开发期间探测PCB的电磁场情况

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LANGER EMV-Technik SX近场探头组包含2个无源近场探头,用于在研发阶段以高时钟频率测量电子模块上的电场和磁场,频率范围为1GHz到10GHz。SX探头组的探头可以紧贴电子模块进行测量,比如贴近单个集成电路引脚、导线、元件及其连接点,从而定位干扰信号源。通过相应地操作近场探头,能够测量出电子模块上电磁场的方向及其分布。这种近场探头小巧轻便,并具备外皮电流衰减和电屏蔽。 这种近场探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。探头内部有一个终端电阻。

LANGER EMV-Technik SX近场探头组产品内容:

1xSX-E 03, 电场探头(1GHz-10GHz)

1xSX-R 3-1, 磁场探头(1GHz-10GHz)

1xSMA-SMA 1 m, SMA-SMA 测量电缆

1xCase 4

LANGER EMV-Technik SX近场探头组技术参数

频率范围:1 GHz - 10 GHz

接口类型:SMA, female, jack

重量:200 g

LANGER EMV-Technik SX近场探头组产品简介:

SX-E 03型探头底部的电极尺寸约为4x4mm,用于检测定位很小的电场源,例如导线、集成电路板上的单个元器件。

SX-R 3-1型磁场探头尺寸小,用于高分辨率测量高频磁场,因而能够识别出作为潜在干扰源的最小元件。此外,由于探头尺寸小,适于测量很难靠近的位置,例如集成电路引脚的周围区域。

 

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