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传导抗扰度测试系统(CS)

对于低频(150kHz~80MHz/230MHz)的射频信号的波长较长,EUT的互连电缆比EUT本身更加容易成为天线而接收电磁场,因此射频抗扰度试验的低频部分采用传导测量方式。通过向被试设备的电缆注入共模电流,可以模拟E场和H场对被试设备的影响。传导抗扰度测试系统(CS)基于IEC 61000-4-6/GB T17626.6开发定制。

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传导抗扰度测试系统(CS)遵循主要标准:

IEC 61000-4-6/GB T17626.6:RF induction conducted disturbances immunity testest

传导抗扰度测试系统(CS)应用特点:

 对于低频(150kHz~80MHz/230MHz)的射频信号的波长较长,EUT的互连电缆比EUT本身更加容易成为天线而接收电磁场,因此射频抗扰度试验的低频部分采用传导测量方式。通过向被试设备的电缆注入共模电流,可以模拟E场和H场对被试设备的影响。针对被试设备不同类型的端口,可选择4种注入方式:

CDN直接注入:适用于电源线(M型CDN)及常用电缆

电磁钳注入:如果无法适用CDN,可以使用电磁钳。

电流钳注入:无法适用CDN,而且被测电缆的长度过短时,就需要使用电流钳。

直接注入法:通过100欧姆电阻直径注入到同轴电缆的屏蔽层上。

传导抗扰度测试系统(CS)测试配置:

主要测试设备:信号源、功率放大器、定向耦合器、功率计、CDN网络、EMC测试软件等 

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